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Metrology And Measurement Systems

人气:22408

Metrology And Measurement Systems

SCIE
简称:METROL MEAS SYST
ISSN:0860-8229
ESSN:0860-8229
研究方向:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
分区:4区
数据库检索:SCIE

Metrology And Measurement Systems英文简介

Contributions are invited on all aspects of the research, development and applications of the measurement science and technology.

The list of topics covered includes: theory and general principles of measurement; measurement of physical, chemical and biological quantities; medical measurements; sensors and transducers; measurement data acquisition; measurement signal transmission; processing and data analysis; measurement systems and embedded systems; design, manufacture and evaluation of instruments.

The average publication cycle is 6 months.

Metrology And Measurement Systems中文简介

《Metrology And Measurement Systems》是一本由Polish Academy of Sciences, Committee on Metrology and Scientific Instrumentation出版商出版的专业工程技术期刊,该刊创刊于1988年,刊期Quarterly,该刊已被国际权威数据库SCIE收录。在中科院最新升级版分区表中,该刊分区信息为大类学科:工程技术 4区,小类学科:仪器仪表 4区;在JCR(Journal Citation Reports)分区等级为Q4。该刊发文范围涵盖仪器仪表等领域,旨在及时、准确、全面地报道国内外仪器仪表工作者在该领域取得的最新研究成果、工作进展及学术动态、技术革新等,促进学术交流,鼓励学术创新。2021年影响因子为1.009,平均审稿速度较慢,6-12周。

中科院分区最新升级版(当前数据版本:2021年12月最新升级版)

大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 4区 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 4区

中科院JCR分区历年趋势图

期刊指数

影响因子 h-index Gold OA文章占比 研究类文章占比 OA开放访问 平均审稿速度
1.009 24 0.00% 98.00% 开放 较慢,6-12周

IF值(影响因子)趋势图

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